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研討會論文
學年度2009
論文名稱(篇名)China RFID patent analysis
會議名稱Proceedings of the ASME International Manufacturing Science and Engineering Conference 2009 (MSEC2009-84168)
作者中文名張力元
作者英文名Charles V. Trappey
全部作者Trappey, C.V., Taghaboni-Dutta, F., Wu, H.-Y., Trappey, A.J.C.
會議地點West Lafayette, Indiana, USA

活動花絮

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